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采用新型晶体测量超短光脉冲
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摘要
采用新型晶体POM作倍频器件,建立了超短光脉冲二阶强度自相关检测系统,并对半导体超短光脉冲进行了测量.系统的最小可检测平均光功率为100μW,可测最大脉宽为180ps。
作者
于虹
朱利
机构地区
东南大学电子工程系
出处
《东南大学学报(自然科学版)》
EI
CAS
CSCD
1997年第1期78-81,共4页
Journal of Southeast University:Natural Science Edition
基金
国家自然科学基金
通信863计划
电子部八五军事电子预研基金
关键词
POM晶体
超短光脉冲
倍频器件
半导体激光器
分类号
TN248.4 [电子电信—物理电子学]
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东南大学学报(自然科学版)
1997年 第1期
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