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采用新型晶体测量超短光脉冲

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摘要 采用新型晶体POM作倍频器件,建立了超短光脉冲二阶强度自相关检测系统,并对半导体超短光脉冲进行了测量.系统的最小可检测平均光功率为100μW,可测最大脉宽为180ps。
作者 于虹 朱利
出处 《东南大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 1997年第1期78-81,共4页 Journal of Southeast University:Natural Science Edition
基金 国家自然科学基金 通信863计划 电子部八五军事电子预研基金
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参考文献4

二级参考文献1

  • 1肖建伟,薄报学,衣茂斌,马玉珍,高鼎三.1.3微米InP/InGaAsP多层限制掩埋新月型激光器[J]半导体学报,1988(06).

共引文献2

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