用于I_(DDQ)测试的片内电流传感器被引量：2

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摘要本文首先讨论了设计用于I_(DDQ)测试的片内电流传感器时应该考虑的一些问题,然后介绍了8种较有代表性的片内电流传感器设计方案,并对它们进行了比较,最后提出与片内电流传感器的设计和应用相关的一些课题。

作者范鹏程王志华高文焕

机构地区清华大学电子工程系电路与系统教研组

出处《微电子测试》 1997年第1期28-38,共11页

基金国家自然科学基金批准号:69572017

关键词 CMOS集成电路测试片内电流传感器

参考文献2

1Shyang-Tai Su,Rafic Z. Makki,Troy Nagle. Transient power supply current monitoring—A new test method for CMOS VLSI circuits[J] 1995,Journal of Electronic Testing(1):23～43
2Jerry M. Soden,Charles F. Hawkins,Ravi K. Gulati,Weiwei Mao. I DDQ testing: A review[J] 1992,Journal of Electronic Testing(4):291～303

1邱麦平.“赢”销之道在逆市中阅读[J].现代家电,2009(5):34-36.
2新天.两代数字电视机卡分离“一体机”的命运[J].家电检修技术,2008(5):1-1.
3美丽人生.编辑导语：让你的双肩紧张起来[J].大众软件,2003(9):72-72.
4HKPCASHOW变革缔造万千商机[J].印制电路资讯,2008(5):92-92.
5百炼绕指.喜欢，就是要置顶[J].计算机应用文摘,2008,24(24):64-64.
6冯传岗.适者生存与时俱进加快CATV宽带综合网的建设[J].视听界（广播电视技术）,2004,0(2):37-41.
7专家介绍[J].现代雷达,2009,31(11):5-5.
8王华,于军,董小敏,王耘波,周文利,赵建洪,周东祥.Au/PZT/BIT/p-Si异质结的制备与性能研究[J].物理学报,2001,50(5):981-985. 被引量：4
9邱雨.创新技术筑牢边海电磁长城——访成都华日通讯技术有限公司技术总监左劲[J].中国无线电,2016(10):41-42.
10黄涛,周启海,吴红玉.基于双域双向水平倾角最小化圈绕的凸壳新算法[J].计算机科学,2008,35(2):235-237. 被引量：3

微电子测试

1997年第1期

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