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局部屏蔽法在X-Ray残余应力测量中的应用

Application of Local Covered X Ray Technique to Residual Stress Measurement
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摘要 本文所述的局部屏蔽法即是在X射线测量过程中的下遮挡法,即是将被测部位暴露出来,而将其余部位进行遮挡以对X射线进行屏蔽。局部屏蔽法是解决应力梯度测量中的一种有效方法。 The local covered X ray technique used in the process of residual stress measurement is a technique means that the concerned area is exposed and the rest of area can be screened from X ray.This technique is an efficient method for measuring the area with stress gradient.The key technique is presented in this paper and good results are obtained.
机构地区 北京工业大学
出处 《实验力学》 CSCD 北大核心 1997年第1期135-138,共4页 Journal of Experimental Mechanics
关键词 屏蔽膜 X射线 残余应力 金属 应力测定 screen film,X ray,residual stress.
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参考文献1

  • 1张亦良,中国锅炉压力容器安全,1992年,8卷,5期

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