7.5—30keVC^＋,N^＋,O^＋与H2分子碰撞的单电子俘获截面测量被引量：1

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摘要建立了一套用于研究单价正离子与气体分子碰撞的单电子俘过程的装置，测量了７．５－３０ｋｅＶ能量范围的Ｃ＾＋，Ｎ＾＝，Ｏ＾＋离子与Ｈ２分子碰撞单电子俘获截面。对于３０ｋｅＶ能量点，我们的实验结果和文献推荐值符合较好，其它能量点尚未见报道。

作者闫冰马洪良

机构地区复旦大学物理二系

出处《原子与分子物理学报》 CSCD 北大核心 1997年第2期267-271,共5页 Journal of Atomic and Molecular Physics

关键词气体靶电子俘获截面分子碰撞

分类号 O561.5 [理学—原子与分子物理]

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原子与分子物理学报

1997年第2期

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