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惠瑞捷半导体科技增加并行机制以缩减存储器测试开发时间

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摘要 惠瑞捷半导体科技将可编程接口矩阵应用到Verigy V5000e工作站,以帮助存储器制造商在测试开发和调试时获得并行测试能力。凭借该矩阵,V5000e可以并行测试12颗芯片,大大减少了生产线上的操作时间,大幅度提高了总产能。此矩阵还将V5000e的引脚数量从128提高到768个,从而能够测量具有更高引脚数量的多种类型存储器芯片,包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及MCP。
出处 《电信技术》 2007年第4期54-54,共1页 Telecommunications Technology

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