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发光二极管失效分析 被引量:2

Failure Analysis for Light Emitting Diode
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摘要 基于发光二极管(LED)所具有的特点,系统地总结出一套发光二极管失效分析方法,并给出了几个典型失效分析案例,简要阐述了失效分析过程中的注意事项。通过失效分析,进一步优化和改善了LED的制造技术,达到提高质量和可靠性的目的。该方法在失效分析过程中具有一定的指导意义。 Based on the properties of light emitting diode, the method of failure analysis was summarized, and several kinds of examples for failure analysis were given, the notices of failure regulation analysis were explained. Through failure analysis, the technique of LED was further optimized and improved for raising the quality and reliability. It is of great importance to the method of failure analysis for LED.
作者 蔡伟智
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第3期255-258,共4页 Semiconductor Technology
关键词 发光二极管 失效分析 解剖 金相学 LED failure analysis dissect metallography
  • 相关文献

参考文献4

  • 1MARTIN P L.Electronic failure analysis handbook[M].张伦译.北京:科学出版社,2005:175-176.
  • 2茅以升.现代工程师手册[M],北京出版社,1987.
  • 3赵敏,张万生.白光功率LED的加速寿命试验[C]∥第十届全国LED产业研讨与学术会议论文集.中国光学光电子行业协会光电器件分会,2006:34-37.
  • 4蔡伟智.GaN基LED的静电防护技术.国际光电与显示,2004,8:121-124.

共引文献3

同被引文献11

引证文献2

二级引证文献3

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