摘要
本文分析了荫罩曲面的测试误差,提出了如何减小测试误差对拟合精度的影响,并由此导出了拟合效果评价的客观标准。
We analyzed the measurement error of shadow mask, promoted how to decrease the affect of that error on the fitting accuracy, derived the objective standard evaluating fitting any shadow mask.
出处
《真空电子技术》
1997年第1期11-14,共4页
Vacuum Electronics