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荫罩曲面测试数据的修正及拟合中应注意的几个问题

Amending of Measured Data of Shadow Mask Surface and Several Concerns on Fitting
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摘要 本文分析了荫罩曲面的测试误差,提出了如何减小测试误差对拟合精度的影响,并由此导出了拟合效果评价的客观标准。 We analyzed the measurement error of shadow mask, promoted how to decrease the affect of that error on the fitting accuracy, derived the objective standard evaluating fitting any shadow mask.
出处 《真空电子技术》 1997年第1期11-14,共4页 Vacuum Electronics
关键词 荫罩 拟合 测试 误差修正 彩色显像管 Shadow mask, Fitting, Measurement, Error amending
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献6

  • 1匿名著者,显象管技术,1986年,4期
  • 2邓建中,计算方法,1985年
  • 3易大义,数值方法,1984年
  • 4冯康,数值计算方法,1978年
  • 5钱慰宗,西安交通大学学报,1992年,26卷,3期,41页
  • 6易大义,计算方法,1989年

共引文献1

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