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晶体管非工作状态可靠性预计
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摘要
本文根据晶体管非工作期可靠性统计数据建立了我国晶体管非工作状态失效率预计模型,经验证,预计失效率与现场失效率相吻合。通过预计模型可预计晶体管在各类环境下的非工作状态失效率,尤其给出了我国晶体管普通库房贮存失效率和贮存有效期。
作者
杨家铿
机构地区
电子部五所
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1997年第2期15-20,共6页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词
晶体管
非工作状态
可靠性预计
分类号
TN320.6 [电子电信—物理电子学]
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电子产品可靠性与环境试验
1997年 第2期
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