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CCD技术及其在纺织检验中应用 被引量:1

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摘要 本文论述电荷耦合器件(CCD)技术在现代科技中的应用和进展,提出应用线阵CCD在纺织测量中的应用。以实例分析探讨线阵CCD技术在纺织测量中的具体算法。
作者 徐国盛
出处 《山东纺织经济》 2007年第3期87-88,共2页 Shandong Textile Economy
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参考文献2

二级参考文献6

  • 1-.TMS320C20/C25用户指南[M].北京:中国科学院声学所,1992..
  • 2中国科学院声学所,TMS320C20/C25用户指南,1992年
  • 3史锦珊,光电子学及其应用,1991年
  • 4赵依军,单片微机接口技术,1989年
  • 5Scribner D,et al. Infrared focal plane array technology[A], Proc IEEE[C], 1991, 79(1) :66-85.
  • 6Barbe.D.F. Imaging devices using the charge coupled principle. Proc.IEEE, 1975,.63.38-66.

共引文献11

同被引文献3

  • 1ZHAO Hong, TU Demin. Holograph sizing of contaminants in XLPE Cables[J] .IEEE Trans on EI, 1991(4) :217 - 221.
  • 2田晓静,韦德怀,刘上乾.光电子技术及其在纺织工业中的应用[C]//中国纺织工程学会.长岭杯纺织电子学术研讨论文集.2002:243-245.
  • 3CHEN Jin-xiang,CHANG Ben-kang. A study on intelligent measuring equipment for the width of fibers[J] .Proc SPIE, 1998,3558 : 591 - 594.

引证文献1

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