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微调线绕电位器失效机理分析
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摘要
本文通过3800只微调线绕电位器的可靠性试验,基本上摸清了该产品的失效模式,分析了引起失效的主要原因,并提出了提高该产品可靠性水平的一些措施。
作者
张自力
机构地区
国营第八九三厂
出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
1989年第3期63-65,共3页
Electronic Components And Materials
关键词
线绕型
微调电位器
失效机理
分类号
TM547.7 [电气工程—电器]
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电子元件与材料
1989年 第3期
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