期刊文献+

高k和金属栅——45nm的起点 被引量:1

下载PDF
导出
摘要 在被称作“40年来电脑芯片的最大变化“的新闻发布中.Intel宣布将45nm节点的生产中引入铪基(hafnium—based)高k栅电介质和金属栅电极。在Intet之后,IBM也很快发布一个类似的通告。高k栅电介质在两个方面优于现在使用的氮氧化硅较小的栅泄漏电流和较大的驱动电流。它还可以使未来的器件能够进一步地等比例缩小,因为常规的电介质已经相当薄.厚度只有约5个原子。据估计,几乎一半的芯片功耗是由穿透薄层电介质的泄漏电流所引起的。
作者 Peter Singer
出处 《集成电路应用》 2007年第5期27-27,共1页 Application of IC
  • 相关文献

同被引文献3

  • 1产业时报社.“硅深槽蚀刻设备”.全球·日本半导体新技术/新材料/新工艺2008最新动态,2008,(11):58-60.
  • 2M. Op de Beeck et al, A Novel Plasma-Assisted Shrink Process to Enlarge Process Windows of Narrow Trenches and Contacts for 45 nm Node Applications and Beyond [C]. Proc, of SPIE, 2007, Vol. 6519-30, Session 6, p, 100.
  • 3Giang Dao, "Challenges of Preparing for 32, 22 nm"[J] Semiconductor International,2007,(7):25-26.

引证文献1

二级引证文献2

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部