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金属连线光刻技术

The Technology of Printing Metal Interconnection
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摘要 介绍了一种细线条金属连线光刻技术。在溅射铝后,生长一薄层氮化硅薄膜作为减反层,利用氮化硅薄膜的光刻条件,涂覆薄胶可以保证刻出细线条,腐蚀薄层氮化硅保证线宽,同时在腐蚀铝过程中用氮化硅作掩蔽解决了薄胶问题。并在亚微米的抗辐射加固电路中成功应用。 This article elaborated the technology of printing narrow metal interconnection. After aluminum deposition, a thin layer of Si3 N4 was deposited as Anti - layer reduced. Due to Si3 N4 thin layer lithography condition, it was possible to print small line width by applying a thin layer of photoresist. The reason of using Si3 N4 as a protect layer was to provide line width and solve the problem of thin photoresist. We have applyed it in submicron radiation -hard circuit successfully.
作者 刘旸 唐冬
出处 《微处理机》 2007年第2期14-15,19,共3页 Microprocessors
关键词 线宽 薄胶 减反层 Line Width Thin Photoresist Anti - layer reduced
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参考文献2

  • 1总编辑委员会.金属的化学腐蚀性质..电子工业生产技术手册(半导体与集成电路卷硅器件与集成电路)第13卷[z].北京:国防工业出版社,1986..
  • 2杨汉朋.微细光刻技术.电子工业生产技术手册(半导体与集成电路卷化合物半导体器件)第8卷[z].北京:国防工业出版社,1986.

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