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X射线显微术与纳米探测

X Ray Microscopy and Nanometre Measurement
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摘要 本文介绍了X射线显微术。 The X ray microscopy,X ray laser holography and X ray interferometry by using crystal lattice constant as length standard are introduced.
出处 《现代计量测试》 1997年第1期3-5,共3页 Modern Measurement and Test
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