摘要
结合SOC测试结构的特点,采用量子进化算法对SOC测试结构进行优化。通过对量子进化算法中群体尺寸、旋转角度的合适设定,达到减少SOC测试所用时间的目的。针对国际SOC标准电路验证表明,与同类算法相比,该算法能够获得较短的测试时间。
By combining the characteristics of SOC test architecture, quantum-inspired evolutionary algorithm was applied in optimization of SOC test architecture. By suitably setting population of swarm and rotation angle, it reached to reduce test time of SOC. The experimental results for SOC benchmark shows that the proposed algorithm can achieve lower test time with similar algorithm.
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第6期528-531,共4页
Semiconductor Technology
基金
国家自然科学基金(60266001)
广西自然科学基金(桂科0542051)
关键词
量子进化算法
测试结构
系统芯片
量子门
quantum-inspired evolutionary algorithm
test architecture
SOC
rotation gate