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反射高能电子衍射系统(RHEED)

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摘要 高能电子小角度(-2℃)掠射样品表面,可以得到电子衍射图像.通过分析电子衍射图像,可以进行表面晶体构造分析,晶体成长过程观察及成膜厚度的监控.
出处 《物理》 CAS 北大核心 2007年第6期497-497,共1页 Physics
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