SEU的抑制

随着工艺技术的迅速发展，创新进一步提高了器件在速率、容量和功耗等方面的性能，使得FPGA比ASIC更具优势。然而，技术的发展也突出了以前可以忽略的某些效应，例如，单事件干扰（SEU）导致的软误码影响越来越大。通过仔细的IC设计，65nm节点单位比特的软误码率有所下降，但是每一工艺节点的逻辑容量在不断翻倍，配置RAM（CRAM）比特数量也随之增长。