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现代离子注入机的机械扫描技术 被引量:1

Mechanical Scanning Technology of Ion Implanter
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摘要 简单介绍了典型离子注入机的组成,分析了离子注入机中扫描技术的重要性。随着集成电路工艺技术的提高,对离子注入提出更高的要求,传统的批注入已不能满足当前的工艺,从而开发出了适应当前工艺的单晶片注入的机械扫描技术。这种注入技术解决了技术上的难题,也很好地控制了成本风险,同时具有更高精度、更少污染等一系列优点,成为当前高端离子注入机机械扫描技术的首选。本文对国内外技术进行了对比,对国内离子注入机机械扫描技术的发展进行了展望。 Introduced the configuration of typical ion implanter, analyzed the importance of the implantation mechanical scanning technology. Along with the development of integrated circuit, the traditional batch implantation has already can't satisfy a current process, the single wafer implantation with the mechanical scanning solved the technique problem, also controlling the cost risk , having a series of advantage of higher accuracy, less contamination etc, becoming the current high level ion implanter the best choice. Contrast to the domestic and international technique in addition, and provide a outlook for the domestic ion implanter mechanical scanning tech-nology.
作者 吴尚德
出处 《现代机械》 2007年第3期69-71,共3页 Modern Machinery
关键词 离子注入机 机械扫描 批注入 单晶片注入 平行离子柬 ion implanter mechanical scanning batch implantation single wafer implantation parallel ion beam
  • 相关文献

参考文献3

  • 1Michael Quirk,Julian Serda.Semiconductor Manufacturing Technology[M].北京:电子工业出版社,2003:458-460.
  • 2应用材料.可移动元件的多向扫描和其离子束监测设备[P].中国:CN 1647235A.2005-07-27.
  • 3何晓阳.中束流平行扫描式离子注入机的现状[J].半导体技术,1997,13(1):61-64. 被引量:2

共引文献1

同被引文献7

引证文献1

二级引证文献1

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