X光显微镜可检测三维纳米材料

美国加利福尼亚大学的科研人员新近开发成功一种新型X光显微镜，它能够观察三维纳米材料。这种显微镜有助于设计出更好的电子材料、光学材料以及生体材料。这一新装置包括照射到纳米颗粒上的高功率X光光源和收集由试样散射出的X光收集系统。然后根据数据通过计算机构成三维图象。这种显微镜能够分辨小到17nm或几个原子大小的微粒。