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基于过采样技术提高SOC单片机片内A/D分辨率的研究与实现

Resolution Improvement of ADC in the MCU by Using the Oversampling and Mean Value Technology
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摘要 叙述了基于过采样技术,使用软件方法提高单片机片内A/D分辨率的基本原理及实现方法。给出了一个实现示例,将C8051F040片内12位分辨率ADC提高到16位分辨率。 This paper introduces a simple method that improves ADC resolution using software. By over sampling methods, the accuracy for C8051F040 microprocessor with on- chip 12 - bit ADC can reach that of 16 - bit ADC.
作者 李勇 牛文学
出处 《安阳师范学院学报》 2007年第2期52-53,共2页 Journal of Anyang Normal University
关键词 过采样 模数转换 C8051F040 Over sampling A/D C8051F040
  • 相关文献

参考文献1

二级参考文献2

  • 1Pervez M A,Henrik V S, Jan VDS. An overview of sigma-Delta eonverters[J]. IEEE, 1996,13 (1) : 61-84.
  • 2Atmel Co. Data Sheet 8 bit Microcontroller with 2K bytes Flash AT89C2051[Z]. 1997.

共引文献3

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