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Si上Bi_2Sr_2Ca_1Cu_2O_(7-x)超导膜分形现象的AFM观察 被引量：1

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摘要 利用射频磁控溅射方法,在Si衬底上用YSZ(Y稳定的ZrO_2)作为缓冲层成功地淀积了Bi_2Sr_2Ca_1Cu_2O_(7-x)(BSCCO)超导膜,其零电阻温度T_c=82K.在利用原子力显微镜(AFM)和透射电子显微镜(TEM)作材料的表面形貌和微结构观察分析时,首次在BSCCO超导膜中观察到了分形晶化,并测得其分形维数d=1.795,本文报道了这一观察结果.
作者 刘融 钱文生 魏同立
机构地区 东南大学微电子中心
出处 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第7期769-771,共3页 Chinese Science Bulletin
关键词 分形 BSCCO 薄膜 超导体 硅 AFM
分类号 O511.1 [理学—低温物理] TM262 [一般工业技术—材料科学与工程]
  • 相关文献

参考文献2

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引证文献1

科学通报
1997年 第7期

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