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摘要实现更快捷半导体测试的集成测试系统；新型自动3维X-Ray AOI／AXI同步检测设备；新型单相防篡改液晶电度计量集成电路；全新综合诊断测试解决方案；扩大移动WiMAX协议测试的解决方案.

出处《电子设计技术 EDN CHINA》 2007年第6期142-143,共2页 EDN CHINA

关键词集成测试系统测量测试解决方案半导体测试 X-RAY WIMAX 检测设备集成电路

分类号 TN929.533 [电子电信—通信与信息系统]

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电子设计技术 EDN CHINA

2007年第6期

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