摘要
在金属／绝缘层／金属（Ｍｅｔａｌ／Ｉｎｓｕｌａｔｏｒ／Ｍｅｔａｌ，ＭＩＭ）隧道结发光中，粗糙度与表面等离电磁场量子（ＳｕｒｆａｃｅＰｌａｓｍｏｎＰｏｌａｒｉｔｏｎ，ＳＰＰ）的耦合起着非常重要的作用．本文利用原子力显微镜摄得发光ＭＩＭ隧道结粗糙表面的照片，研究了粗糙度分布的统计结果与测得的发光光谱之间的关系．
In the processing of light-emission of Metal/Insulator/Metal (MIM) tunnel junction, the roughness coupling with Surface Plasmon Polariton (SPP) plays an important role. withthe photos of the light-emission MIM junctions taken by Atomic Force Microscope(AFM),we discussed the results of the statistical roughness distribution and the emitting spectrum measuredfrom the same MIM junction.
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第5期25-28,共4页
Acta Electronica Sinica
基金
国家自然科学基金
