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微加工中一种新型刻蚀深度实时检测系统 被引量:6

A Novel Real Time Etching Depth Testing System for Micro Fabrication
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摘要 实现了一种新型刻蚀深度实时检测系统,整个系统对温度漂移,气体流动与外界振动等环境因素极不敏感,系统测量误差小于0.98%,实现了在真空环境下刻蚀深度的实时监视与检测。 A novel real time system for etching depth measurement is demostrated. The system is not sensitive to instability, temperature variation and gaseous flow. The measurement error is small than 0.98%. We realized the real time test of etching depth in vavuum environment. This has practical significance to binary optics micro fabrication.
出处 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第6期745-749,共5页 Acta Optica Sinica
基金 国家自然科学基金
关键词 微加工 离子束刻蚀 刻蚀深度 实时检测 binary optics, ion beam etching.
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