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国外继电器性能摸底试验分析
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摘要
介绍了对国外两家继电器公司的样品进行性能摸底试验的情况,并对继电器的加速度试验、多余物的微粒碰撞噪声检测(PIND)提出了一些看法。
作者
张克远
机构地区
航天总公司
出处
《质量与可靠性》
1997年第3期44-45,共2页
Quality and Reliability
关键词
继电器
微粒碰撞
噪声检测
PIND
分类号
TM58 [电气工程—电器]
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质量与可靠性
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