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温度对真空断路器触头材料耐电压强度的影响 被引量:2

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摘要 本文测定了Cu、Cu-Te、Ca-Se、Cu-Te-Se-Fe、Cu-Cr等触头材料在300~1600K温度范围内的耐电压强度。测定结果表明,对于不同的触头材料,存在不同的临界温度。并用扫描电镜观察了在高温下被击穿触头材料的表面形貌,根据观察到的形貌特点和Langmuir空间电荷方程讨论了温度对耐电压强度的影响。
出处 《高压电器》 CAS CSCD 北大核心 1990年第6期40-44,共5页 High Voltage Apparatus
基金 国家自然科学基金
  • 相关文献

参考文献1

  • 1[美]拉弗蒂(Lafferty,J·) 主编,程积高,喻立贵.真空电弧理论和应用[M]机械工业出版社,1985.

同被引文献10

引证文献2

二级引证文献14

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