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低压VDMOS氧化层厚度与特征电阻的优化设计 被引量:1

Optimization Design between Threshold Voltage and Featured on-Resistance of VDMOS
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摘要 介绍VDMOS阈值电压的定量计算及氧化层厚度对他的影响,及VDMOS的氧化层厚度与特征电阻RONA的关系,讨论了栅氧化层的厚度对特征电阻的影响并进行了简单计算。此外,讨论了最新的VDMOS结构和制造技术,对器件阈值与特征电阻进行了优化。 The paper introduces the calculation of VDMOS, then introduces the relationship between Tax and special on -resistance of VDMOS,it also discusses the effect on the To, to special on - resistance and gives the simple calculation. Furthermore,the paper discusses the optimization design of new structure and manufacture technology to threshold voltage and featured on - resistance of VDMOS.
出处 《现代电子技术》 2007年第14期163-166,共4页 Modern Electronics Technique
关键词 功率VDMOS 阈值电压 特征电阻 MOSFET power VDMOSFET threshold voltage featured resistance MOSFET
  • 相关文献

参考文献1

  • 1[捷克]维捷斯拉夫·本达.功率半导体器件-理论及应用[M].北京:化学工业出版社,2005.

同被引文献12

引证文献1

二级引证文献4

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