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基于IEEE 1149.1标准的可重定向片上调试方法

An IEEE 1149.1-Compliant Retargetable On-chip Debugging Method
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摘要 介绍了一种基于IEEE1149.1标准的可重定向的调试方法,详细地分析了一种嵌入式调试模块的内部结构、工作原理、实现过程以及它给处理器核带来的代价,该模块在RTL级只需较少的修改即可集成在多种微处理器核上,完成片上调试的功能。 This paper describes an IEEE 1149.1-compliant retargetable on-chip debugging method. The structure, principle, and implementation of the embedded debug module, as well as the cost to the processor, are analyzed in detail. The module can be integrated into various microprocessor cores to implement debugging with a little modification on the RTL level.
出处 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2007年第7期183-186,共4页 Microelectronics & Computer
关键词 可重定向 IEEE 1149.1 片上调试 JTAG retargetable IEEE 1149.1 on-chip debug JTAG
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