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劳厄形貌术在碲镉汞器件研制中的应用
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摘要
讨论了反射劳厄形貌术的优缺点,结合碲镉汞器件研制工作给出了实际应用的几个例子。如碲镉汞晶片结构检查,观察碲镉汞晶片表面的磨抛损伤、跟踪观察碲镉汞晶片在光刻、化学腐蚀成形。
作者
蔡毅
机构地区
昆明物理研究所
出处
《红外技术》
CSCD
北大核心
1997年第3期29-32,共4页
Infrared Technology
关键词
反射劳厄形貌术
碲镉汞
晶体缺陷
红外光学器件
分类号
TN214.05 [电子电信—物理电子学]
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红外技术
1997年 第3期
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