摘要
利用反射式阳极产生K荧光的装置,用Ag作为次级靶进行测量,得出不同电压下的K荧光光子数与管电压之间的关系,拟合出K荧光辐射强度的公式.
The relationship between K-fluorescent photons and tube voltage is studied by using the reflection anode tube devices in Ag secondary target. A new K-fluorescent X-ray radiation intensity formula is refined.
出处
《沈阳师范大学学报(自然科学版)》
CAS
2007年第3期323-324,共2页
Journal of Shenyang Normal University:Natural Science Edition
基金
辽宁省教育厅高等学校科技基金资助项目(202113192)
关键词
K荧光X射线
辐射强度
次级靶
K-fluoreseent X-ray
radiation intensity
secondary target