期刊文献+

电路组件的焊后简易功能测试方法的研究

To Study Simple and Easy Test Method on Base of the Circuit Function Unit for the Circuits Assembled
下载PDF
导出
摘要 讨论了使用简易装置,通过划分电路组件功能区域的方法。 The article discusses simple and easy test method and device for circuits assembled on base of funtion unit in circuits on the PCB.By constriction test function unit of circuits,weld defects and lost electric link could be found.
作者 沈强
出处 《电子工艺技术》 1997年第3期93-95,共3页 Electronics Process Technology
关键词 电路组件 焊接 功能测试 The function unit of circuits Constviction test in order
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部