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CESI-Verigy集成电路测试验证实验室瞄准中国高端芯片测试
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摘要
日前,半导体测试公司惠瑞捷(Verigy)与中国电子技术标准化研究所(CESI)在北京联合宣布“CESI—Verigy集成电路测试验证实验室”正式成立,旨在满足北京乃至国内高端芯片测试方面日益增长的需求。
作者
代君利
机构地区
《中国电子商情:基础电子》记者
出处
《中国电子商情》
2007年第8期71-71,共1页
China Electronic Market
关键词
芯片测试
集成电路
实验室
中国
验证
标准化研究所
半导体测试
CESI
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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CESI-Verigy集成电路测试验证实验室在京成立[J]
.电子产品世界,2007,14(8):136-136.
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王丽英.
先进的测试设备能促进我国IC设计发展吗?[J]
.今日电子,2007(8):23-23.
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.电子工业专用设备,2007,36(8):68-68.
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CESI与Verigy联手开发高端测试技术与标准[J]
.电子工业专用设备,2007,36(7):40-40.
5
章从福.
“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”在北京正式成立[J]
.半导体信息,2007,0(6):3-3.
6
中国电子技术标准化研究所与惠瑞捷半导体科技合作[J]
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7
面向高端IC测试验证实验室在京成立[J]
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商讯[J]
.新经济,2010(2):85-85.
9
“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”在北京正式成立[J]
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10
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中国电子商情
2007年 第8期
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