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摘要 协助进行高速串行数据测量的合成技术;新一代增强型MicroScanner2铜缆验证测试仪;支持量新WindowsVista的LabVIEW8.2.1;
出处 《电子设计技术 EDN CHINA》 2007年第7期134-135,共2页 EDN CHINA
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