同位素型载流XRF分析仪能谱漂移自校正技术

介绍了一种用于同位素型载流X荧光分析仪的自校正技术。通过测量探头内部的纯元素标样，利用仪器的计算机系统，能对各种原因造成的能谱峰位漂移和计效率漂移进行全自动校正。该技术在新型载流XRF分析仪ZF─920中应用后，使仪器获得了良好的稳定性，保证了仪器较高的测量精度。