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“泛华测控”汽车电子测试技术专题研讨会圆满结束

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摘要 由北京中科泛华测控技术有限公司(以下简称“泛华测控”)主办、美国国家仪器有限公司(以下简称“NI”)协办的“汽车电子测试技术专题研讨会(长春站)”于6月21日在长春花园酒店二楼水晶宴会厅举办。会议于当天下午圆满结束。
出处 《信息与电子工程》 2007年第4期312-312,共1页 information and electronic engineering
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