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电子设备可靠性的Bayes评估及检验
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摘要
本文介绍了小子样电子设备的Bayes可靠性评估模型。它要求评估以元器件失效率为基础,结合设备的现场试验数据进行。此外本文提出了根据试验数据对先验分布进行假设检验的必要性。
作者
徐学标
岳琳
机构地区
上海大学
北京航空航天大学
出处
《上海微电子技术和应用》
1997年第2期17-19,共3页
关键词
可靠性
Bayes分布
假设检验
电子设备
分类号
TN606 [电子电信—电路与系统]
TB114.3 [理学—概率论与数理统计]
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上海微电子技术和应用
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