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电子设备可靠性的Bayes评估及检验

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摘要 本文介绍了小子样电子设备的Bayes可靠性评估模型。它要求评估以元器件失效率为基础,结合设备的现场试验数据进行。此外本文提出了根据试验数据对先验分布进行假设检验的必要性。
作者 徐学标 岳琳
出处 《上海微电子技术和应用》 1997年第2期17-19,共3页
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