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扫描探针显微镜的纳米尺度表面改性和微细加工技术
Contributions of Scanning Probe Microscope to Fabrication of Nonometer-Scale Structures and Surface Modmcatbn
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摘要
本文较全面地讨论了近几年来国外有关利用扫描探针显微镜进行纳米尺度表面改性和微细加工工作的现状和发展,重点讨论纳米尺寸光刻制板技术的发展.最后,本文简要介绍本课题组利用扫描隧道显微镜进行纳米尺度曝光的有关工作,希望引起更多科技工作者的重视,以便进一步推进我国在纳米技术领域的发展.
作者
赵玉清
唐天同
徐蛟
机构地区
西安交通大学电信学院
出处
《电子学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第8期67-72,77,共7页
Acta Electronica Sinica
关键词
扫描探针技术
微细加工技术
集成电路
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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