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在Si衬底上生长高性能Ⅲ-V族器件
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摘要
日本NTT公司和台湾国立交通大学合作利用si衬底研制出一种AiGaSb/InAs HEMT结构,其迁移率高达27300cm^2/V.s,该种结构将用于逻辑电路,它把Ⅲ一V族结构的高迁移率和si衬底的低成本、高硬度和大直径结合起来了。
作者
邓志杰(摘译)
出处
《现代材料动态》
2007年第8期11-12,共2页
Information of Advanced Materials
关键词
Ⅲ-V族
SI衬底
日本NTT公司
器件
性能
生长
SI衬底
INAS
分类号
TN304.23 [电子电信—物理电子学]
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