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基于ARM芯片的嵌入式交叉调试系统 被引量:7

Cross Debugging System Based on ARM Chips
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摘要 本文介绍了JTAG交叉调试技术和ARM芯片的片上调试构架,在此基础上给出了一种嵌入式交叉调试系统的设计及实现方法。该设计以GDB调试器作为人机调试界面,主机运行Linux操作系统(Windows操作系统需要安装Cwgiwin插件),目标机采用SamSung S3C4510B开发板。  This paper introduces the cross debugging technology and the embedded debugging architecture of the ARM chips. A implementation of a embedded cross debugging system is provided in this paper .The design use the GDB debugger as the debugging interface ,and the host runs under Linux OS (or implementing Cwgiwin on Windows OS).The SamSung S3C4510B target board is used in this design.
作者 张欣 栾新
出处 《微计算机信息》 北大核心 2007年第17期128-130,共3页 Control & Automation
关键词 交叉调试 JTAG 内嵌在线仿真器 GDB调试器 远程串行调试通讯协议 Cross debugging, JTAG, EmbeddedICE, GDB debugger, RSP Protocol
  • 相关文献

参考文献5

  • 1IEEE 1149.1 IEEE Standard Test Access Port and BoundaryScan Architecture.
  • 2the ARM7TDMI Debug Architecture.ARM Corporation.1995,2-26.
  • 3ARM7TDMI Technical Reference Manual.ARM Corporation.2001,121-142.
  • 4TAP Controller Source Code.OPEN-JTAG Project.2001
  • 5杨峰,张根宝,田泽,万永波.基于JTAG的ARM芯片系统调试[J].微计算机信息,2005,21(11Z):87-89. 被引量:3

二级参考文献3

  • 1IEEE Std 1149.1-Standard Test Port and Boundary-Scan Architecture.
  • 2Timothy C.Kelly. Techniques and Technologies in Debugging and Optimizing Embedded Application. Embedded System Conference. April 2001
  • 3[英]SteveFurber著 田泽 于敦山 盛世敏译.《ARM SoC体系结构》[M].北京航空航天大学出版社2002,10..

共引文献2

同被引文献23

引证文献7

二级引证文献17

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