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超越S参数测试—安捷伦科技最先进的矢量网络分析仪PNA-X 被引量:2

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摘要 无论在研发还是在生产制造中,工程师们在测试射频元件时都面临许多重大挑战。在研发过程中,更快并以较少的重复工作来解决设计难题至关重要。生产制造过程中,需要在保持精度和最大产出率的同时,缩短测试时间和降低测试成本。
作者 David Ballo
机构地区 安捷伦科技
出处 《电子测试》 2007年第9期77-80,共4页 Electronic Test
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同被引文献5

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引证文献2

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