期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
面向高端IC测试验证实验室在京成立
下载PDF
职称材料
导出
摘要
日前.由惠瑞捷半导体科技公司(Verigy)与中国电子技术标准化研究所(CESI)联合投建的“CESI—Verigy集成电路测试验证实验室”在北京成立,旨在满足北京乃至国内高端集成电路测试方面日益增长的需求。目前.我国大约有400多家集成电路设计公司.其中北京的集成电路设计公司占有30%的比重,产能较大.设计电路也逐渐高档化,有较大的测试验证需求。
出处
《集成电路应用》
2007年第8期10-10,共1页
Application of IC
关键词
测试验证
实验室
集成电路测试
集成电路设计
电子技术标准化
IC
设计电路
北京
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
0
引证文献
0
二级引证文献
0
1
李.
CESI-Verigy集成电路测试验证实验室在京成立[J]
.电子产品世界,2007,14(8):136-136.
2
CESI与Verigy联手开发高端测试技术与标准[J]
.电子工业专用设备,2007,36(7):40-40.
3
中国电子技术标准化研究所与惠瑞捷半导体科技合作[J]
.电信网技术,2007(8):79-79.
4
CESI—Verigy集成电路测试验证试验室在京正式成立[J]
.电子工业专用设备,2007,36(8):68-68.
5
王丽英.
先进的测试设备能促进我国IC设计发展吗?[J]
.今日电子,2007(8):23-23.
6
单祥茹.
高端IC测试验证实验室落户北京[J]
.电子设计技术 EDN CHINA,2007,14(8):148-148.
7
中国电子技术标准化研究所与惠瑞捷半导体科技公司合作测试验证高端集成电路[J]
.电信技术,2007(7):66-66.
8
“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”在北京正式成立[J]
.电子技术应用,2007,33(8):18-18.
9
中国电子技术标准化研究所与惠瑞捷半导体科技合作测试验证高端集成电路“CESI-Verigy集成电路测试验证实验室”在北京正式成立[J]
.电子测量与仪器学报,2007,21(4):31-31.
10
业界要闻[J]
.世界电子元器件,2006(12).
集成电路应用
2007年 第8期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部