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基于改进模板匹配的芯片缺陷检测方法 被引量:3

A Recognition Method of IC defect Based on Modified Templet Matching
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摘要 提出了一种改进的模板匹配方法。该方法是在传统的模板匹配方法的基础上,通过对模板匹配算法的改进,以达到更快速的匹配结果。实验结果表明,此方法可以快速测出管脚个数及间距.系统检测精度高,实时性好,满足在线检测的要求。 A modified templet matching method was proposed. It was based on traditional templet matching method, the modified templet matching is desighed to achieve matching results quickly.Experimental results show that it may detect the pin spacing fast through this method.Precision and realtime can be to online inspect.
作者 王平 白秀玲
出处 《微计算机信息》 北大核心 2007年第01S期135-136,共2页 Control & Automation
基金 河南省杰出青年基金会资助(编号9922)
关键词 IC芯片缺陷 模板匹配 图象处理 Icdefect,template matching,image processing
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参考文献4

二级参考文献9

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共引文献67

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