用二维电荷耦合器件测量角位移的光学方法
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1宋谦,季凯帆,曹文达.天文用电荷耦合器件的实验室检测[J].天体物理学报,1999,19(3):333-337. 被引量：5
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2秦伟刚.光电耦合隔离技术与应用[J].仪器仪表学报,2006,27(z3):2603-2604. 被引量：26
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3李庆辉,高立民,陈良益.半导体激光经纬仪光电自准直测角当量的标定[J].光电工程,1999,26(6):22-25. 被引量：4
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4侯云艳,张寒琦,孙书菊,曹彦波,金钦汉,施文,刘明钟,王安邦.电荷耦合器件分光光度计用于多元素的测定[J].吉林大学自然科学学报,1999(2):83-86.
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5辛仁轩,赵玉珍,薛进敏.二维电荷注入阵列检测器等离子体光谱仪的分析性能[J].分析测试仪器通讯,1996,6(4):198-201. 被引量：4
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6汤逢余,陈京德,刘光勋,薛敏.GCK－Ⅱ光电测宽仪──用CCD改造引进的二手测宽仪[J].冶金自动化,1995,19(6):34-37.
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7刘志红,张展霞,李文冲,王庆有.CCD检测器在ICP-AES中的应用研究——Ⅰ.CCD光谱仪的研制[J].分析仪器,1994(4):1-3. 被引量：4
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8赫尔穆特胡贝尔,布克哈特格鲁内,赫尔穆特赖内里.连续式仓储、混合与灌装作业中的定量[J].衡器,2002,31(3):38-42.
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9吴晓芳,吕玉山,舒启林.光纤端面透镜微磨削加工试验研究[J].组合机床与自动化加工技术,2015(2):144-147. 被引量：4
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10陈兵,舒启林,刘新伟.光纤端面透镜微磨削加工角度试验研究[J].组合机床与自动化加工技术,2016(12):39-41.
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