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某单晶硅辐照系统辐射防护评价 被引量:2

Radiation Protection Assessment of Silicon Irradiation System
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摘要 单晶硅经反应堆中子场辐照后,具有了活化放射性,在单晶硅转运出反应堆及暂存过程中对操作人员构成外照射危害。本文根据某反应堆单晶硅辐照系统技术参数,计算了辐照后样品的活化活度,以及操作人员所在处的周围剂量当量水平,并提出了优化辐照工艺流程和操作的建议。 After being irradiated by neutrons in reactor, single crystal silicon was activated in radioactivity and poses danger to workers in the process of being transferred from reactor for storage. According to technical parameters of a silicon irradiation system, the sample activity and surrounding dose level are calculated, with suggestions of how to optimize design and operation given as well.
出处 《辐射防护通讯》 2007年第3期8-11,共4页 Radiation Protection Bulletin
关键词 单晶硅辐照 活化活度 屏蔽 周围剂量当量 Single crystal silicon Activated Shield Surrounding dose
  • 相关文献

参考文献2

  • 1史元明.辐射剂量学常用数据.北京:中国计量出版社,1987.
  • 2中华人民共和国国家标准.用于X、γ线外照射放射防护的剂量转换因子.GB 11712-1989.

同被引文献3

引证文献2

二级引证文献1

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