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混晶GaAs_(1-x)P_x∶N中N_X带的发光瞬态过程研究

The Transient Spectroscopic Study on Tenary GaAs 1-x P x ∶N Alloys
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摘要 采用皮秒量级的超快速光谱技术,分析了混晶GaAs1-xPx∶N材料发光瞬态过程.结果证实了材料随组份变化,从间接带到直接带(xc=0.45K,77K)转变的带增强效应. The pico second ultrafast spectroscopic technology is used to study the tenary GaAs 1-x P x∶ N alloys. The results confirm the band structure enhancement effect in GaAs 1-x P x∶ N alloys. The PL decay measurements of N X band show that the fast intraband tunneling and slow luminescent decay coexist in GaAs 1-x P x∶ N alloys.
出处 《厦门大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1997年第2期216-220,共5页 Journal of Xiamen University:Natural Science
基金 国家和福建省自然科学基金 中山大学超快速激光光谱学国家重点实验室资助
关键词 Ⅲ-Ⅴ族 半导体 杂质 发光瞬态过程 混晶半导体 III V semiconductor, Luminescence, Impurity and defect, Energy transfer
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参考文献2

  • 1俞容文,厦门大学学报,1995年,34卷,2期,189页
  • 2俞容文,博士学位论文,1995年

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