摘要
采用皮秒量级的超快速光谱技术,分析了混晶GaAs1-xPx∶N材料发光瞬态过程.结果证实了材料随组份变化,从间接带到直接带(xc=0.45K,77K)转变的带增强效应.
The pico second ultrafast spectroscopic technology is used to study the tenary GaAs 1-x P x∶ N alloys. The results confirm the band structure enhancement effect in GaAs 1-x P x∶ N alloys. The PL decay measurements of N X band show that the fast intraband tunneling and slow luminescent decay coexist in GaAs 1-x P x∶ N alloys.
出处
《厦门大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
1997年第2期216-220,共5页
Journal of Xiamen University:Natural Science
基金
国家和福建省自然科学基金
中山大学超快速激光光谱学国家重点实验室资助
关键词
Ⅲ-Ⅴ族
半导体
杂质
发光瞬态过程
混晶半导体
III V semiconductor, Luminescence, Impurity and defect, Energy transfer