摘要
介绍了用二次成像法测定透明玻璃板折射率的原理和方法.由于采用线阵光电耦合器件(CCD)测量,提高了测量精度.
The theory and method of measuring the refraction index of transparent glass-plate with secondary imagery method are introduced. Since using CCD, the high measurement precision is obtained.
出处
《大学物理》
北大核心
2007年第9期37-39,共3页
College Physics
关键词
折射率
透明玻璃板
二次成像法
refraction index
transparent glass-plate
secondary imagery method
