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溅射SiO_x薄膜氧含量与红外特性关系研究
被引量:
1
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摘要
用反应溅射法制成了SiO2薄膜,研究其傅立叶变换红外吸收光谱图特性。Si—O—Si键的伸缩振动吸收峰和弯曲振动吸收峰分别位于1 100 f-1和600 f-1附近。结合XPS定量测试结果讨论了吸收峰与薄膜中氧含量的关系,目的用FTIR非破坏性快速方便预测SiOx薄膜的化学配比。
作者
王慧
刘静
机构地区
中国建筑材料科学研究总院石英重点实验室
出处
《陶瓷》
CAS
2007年第9期27-29,共3页
Ceramics
关键词
反应溅射法
SIO2薄膜
XPS
FTIR
分类号
O484.41 [理学—固体物理]
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