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溅射SiO_x薄膜氧含量与红外特性关系研究 被引量:1

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摘要 用反应溅射法制成了SiO2薄膜,研究其傅立叶变换红外吸收光谱图特性。Si—O—Si键的伸缩振动吸收峰和弯曲振动吸收峰分别位于1 100 f-1和600 f-1附近。结合XPS定量测试结果讨论了吸收峰与薄膜中氧含量的关系,目的用FTIR非破坏性快速方便预测SiOx薄膜的化学配比。
作者 王慧 刘静
出处 《陶瓷》 CAS 2007年第9期27-29,共3页 Ceramics
  • 相关文献

参考文献5

  • 1唐卫中.薄膜材料制备原理、技术及应用.北京:冶金工业出版社,2003
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  • 4何乐年.等离子体气相沉积非晶SiO_2薄膜的特性研究[J].真空科学与技术,2000,20(4):247-251. 被引量:17
  • 5Galeener F L,Mikkelsen J C,Jr.The Raman spectra and structure of pure vitreous P2O5.Solid State Communications,1979,30(8):505 - 510

共引文献16

同被引文献9

引证文献1

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