扫描探针DFM模式下的炭黑表面微观结构研究

采用扫描探针显微镜（SPM）的技术，用动态非接触扫描模式DFM扫描炭黑微观的表面结构，通过加入适当的分散剂来观察单个炭黑粒子的表面形貌，得出了炭黑粒径及表面粗糙度等数值，发现表面粗糙度是炭黑补强的重要参数，丰富了炭黑补强在微观方面的内容。