新型低电流测量数字源表

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摘要 2635和2636数字源表采用最新特殊参数分析技术，实现了高达1fA（10^-5A）的测量分辨率，从而满足了很多半导体、光电和纳米器件的测试需求。此外，其基于仪器的多通道架构相比普通的基于主机的源测量方案降低了50％的成本。通过其测试脚本处理器（TSP）和TSP-Link互连通信总线，测试工程师可利用2636和2635快速构建用于技术研究、特征分析、圆片分拣、可靠性测试、

出处《今日电子》 2007年第10期97-97,共1页 Electronic Products

关键词数字源表电流测量测试需求测量分辨率可靠性测试纳米器件测量方案通信总线

分类号 TN310.7 [电子电信—物理电子学]

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