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新型半导体导电类型判别仪设计与研制

Design and Development of Distinction Meter for New Semiconductor Electric Conduction Type
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摘要 在详细分析金属和半导体接触的整流理论基础上,通过增加补偿二极管、保护电路和数码显示电路改进了传统的三探针整流法,设计了一款用于对半导体材料导电类型判别的测试仪,实际运行结果表明:该测试仪具有准确度高、电路结构简单、操作简便、成本低等特点,可满足实际生产和教学的需要。 On the basis of rectification theory that analyses the contacts of metal and the semiconductor in detail, through increasing compensated the diode, the protection circuit and the numerical code display circuit, the traditional methods of the three probes rectification is improved, a section of tester to use in electric conduction type distinction for semiconductor is designed. Examination result show, this distinction meter has the feature such as the accuracy is high, the electric circuit structure is simple, the operation is simple, the cost is low , may satisfy need in the actual production and the teaching.
出处 《宇航计测技术》 CSCD 2007年第4期50-53,64,共5页 Journal of Astronautic Metrology and Measurement
基金 湖南省重点科技攻关项目"20020523" 湖南大学"SIT计划11-12"资助项目
关键词 整流电路 半导体材料 ^+探针法 ^+导电类型 Rectification circuit Semiconductor material Three probe method Electric conduction type
  • 相关文献

参考文献5

  • 1刘恩科 朱秉升 罗晋生.半导体物理学[M].北京:国防工业出版社,1994..
  • 2A.S.格罗夫编[美].半导体器件与工艺[M].齐建译.北京:科学出版社,1976.
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  • 4刘恩科 朱秉升.半导体物理学[M].北京:国防工业出版社,1995.219-220.
  • 5刘玉玲,张揩亮.微电子技术工程--材料、工艺与测试.北京:电子工业出版社,2004:597-599.

共引文献69

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