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应用半导体激光器的尺寸测量系统研究 被引量:6

A DIMENSION MEASURING SYSTEM USING SEMICONDUCTOR LASER
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摘要 利用光学原理推导了位置尺寸与光学系统参数之间的关系和位置敏感器件PSD与光轴夹角之关系。在此基础上,提出了一种采用半导体激光器作光源,PSD作光电接收器的尺寸测量系统,并通过实验对其精度进行了验证。 From the relevant optical principles the dependency of position and dimension on the parameters of an optical system are derived, in addition to the dependency of a position sensitive detector (PSD) on the angular relationship between optical axes. On the above basis, a dimension measuring system that uses semiconductor laser as its light source and PSD as the receiver, is proposed. Its precision is verified by experiments.
出处 《兵工学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第2期125-128,共4页 Acta Armamentarii
关键词 半导体激光器 尺寸测量 测量系统 激光器 semiconductor laser, non-contact measurement, dimension. position sensitive detector (PSD)
  • 相关文献

参考文献2

  • 1颜景龙,中国兵工学会第六届测试技术学术年会论文集,1992年
  • 2王之江,光学技术手册,1987年

同被引文献5

  • 1隋永新.非接触三坐标测量机的基础研究[学位论文].长春:长春光学精密机械学院,1996..
  • 2王因明.光学计量仪器设计[M].北京:机械工业出版社,1983..
  • 3Vikhman V S. High precision optical surface sensor.Optics Applied, 1988, 27(1).
  • 4甘永立.形状和位置误差检测[M].北京:国防工业出版社,1991..
  • 5甘永立.形状和位置误差检测[M].国防工业出版社,1991.

引证文献6

二级引证文献22

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